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紫外可见分光光度计 微机 数显 打印

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UV754N紫外可见分光光度计

主要技术指标;
● 波长范围;200nm~1000nm
● 波长最大允许误差:±2nm
● 波长重复性:≤1nm
● 透射比最大允许误差:±0.5%(T)(以NBS930D测定)
● 透射比重复性:≤0.2%(T)
● 光谱带宽:4nm
● 杂散光: 0.3%(T)(在220nm处,以NaI测定,在360nm处,以NaNO2测定)
● 稳定性:暗电流漂移:≤0.2%(T)/3min  亮电流漂移:≤0.5(T)/3min


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